如圖是楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)示意圖，其中S₁、S₂為雙縫，D為光屏，實(shí)驗(yàn)中觀察到屏上O點(diǎn)為中央亮紋的中心，P₁為第一級(jí)亮紋的中心，若將雙縫間的距離變小，其他條件不變，則下列說(shuō)法正確的是

如圖是楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)示意圖，其中S₁、S₂為雙縫，D為光屏，實(shí)驗(yàn)中觀察到屏上O點(diǎn)為中央亮紋的中心，P₁為第一級(jí)亮紋的中心，若將雙縫間的距離變小，其他條件不變，則下列說(shuō)法正確的是

A．屏上的干涉條紋的間距將變大

B．屏上的O點(diǎn)可能出現(xiàn)暗條紋

C．屏上P₁位置仍然可能為亮條紋的中心

D．屏上P₁位置可能為暗條紋的中心

 (2011年杭州一模)如圖是楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)示意圖，其中S₁、S₂為雙縫，D為光屏，實(shí)驗(yàn)中觀察到屏上O點(diǎn)為中央亮紋的中心，P₁為第一級(jí)亮紋的中心，若將雙縫間的距離變小，其他條件不變，則(　　)

A．屏上的干涉條紋的間距將變大

B．屏上的O點(diǎn)可能出現(xiàn)暗條紋

C．屏上P₁位置仍然可能為亮條紋的中心

D．屏上P₁位置可能為暗條紋的中心

如圖是楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)示意圖，其中S₁、S₂為雙縫，D為光屏，實(shí)驗(yàn)中觀察到屏上O點(diǎn)為中央亮紋的中心，P₁為第一級(jí)亮紋的中心，若將雙縫間的距離變小，其他條件不變，則下列說(shuō)法正確的是

1. A.
   屏上的干涉條紋的間距將變大
2. B.
   屏上的O點(diǎn)可能出現(xiàn)暗條紋
3. C.
   屏上P₁位置仍然可能為亮條紋的中心
4. D.
   屏上P₁位置可能為暗條紋的中心

如圖甲為兩種光以相同的入射角從某種介質(zhì)射向真空時(shí)的光路圖．圖乙為楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)示意圖，其中S₁、S₂為雙縫，D為光屏，實(shí)驗(yàn)中觀察到屏上O點(diǎn)為中央亮紋的中心．下列說(shuō)法正確的是（      ）

A．由圖甲可知，a光的全反射臨界角小于b光的全反射臨界角

B．通過(guò)圖乙中的雙縫干涉裝置，a光的干涉條紋間距比b光的寬

C．在其它條件不變的情況下，若將D屏向右平移一段距離，則屏上干涉條紋間距將變大

D．由實(shí)驗(yàn)觀察知P₁為a光的第一級(jí)亮紋的中心，在其它條件不變的情況下，若將D屏向右平移一段距離，屏上P₁位置仍然為a光的亮紋的中心