19.圖甲中bacd為導體作成的框架.其平面與水平面成θ角.質量為m的導體棒PQ與ab.cd接觸良好.回路的電阻為R.整個裝置放于垂直于框架平面的變化的磁場中.磁感應強度的變化如圖乙.PQ始終靜止.在0―ts內.PQ受到的摩擦力的變化情況可能是: ( A C )A.f一直增大 B.f一直減小C.f先減小后增大 D.f先增大后減小 查看更多

 

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圖甲中bacd為導體作成的框架,其平面與水平面成θ角。質量為m的導體棒PQab、cd接觸良好,回路的總電阻為R,整個裝置放于垂直于框架平面的變化的磁場中,磁感應強度的變化如圖乙所示。已知PQ始終靜止,則在0~t0s內,PQ受到的摩擦力f的變化情況可能是

A.f一直增大

B.f一直減小

C.f先減小后增大

D.f先增大后減小

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圖甲中bacd為導體作成的框架,其平面與水平面成θ角,質量為m的導體棒PQ與ab、cd接觸良好,回路的電阻為R,整個裝置放于垂直于框架平面的變化的磁場中,磁感應強度的變化如圖乙,PQ始終靜止,在0-ts內,PQ受到的摩擦力的變化情況可能是:

A.f一直增大

B.f一直減小

C.f先減小后增大

D.f先增大后減小

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