15.質(zhì)譜儀是用來測定帶電粒子質(zhì)量的一種裝置.如圖所示.電容器兩極板相距為d.兩板間電壓為U.極板間勻強(qiáng)磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度為B1.方向垂直紙面向外.一束電荷電量相同質(zhì)量不同的帶正電的粒子測電容器的中線平行于極板射入電容器.沿直線穿過電容器后進(jìn)入另一磁感應(yīng)強(qiáng)度為B2的勻強(qiáng)磁場.磁場方向垂直紙面向外.結(jié)果分別打在感光片上的a.b兩點(diǎn).設(shè)a.b兩點(diǎn)之間距離為△x.粒子所帶電荷量為q.且不計(jì)重力.求: 查看更多

 

題目列表(包括答案和解析)

質(zhì)譜儀是用來測定帶電粒子質(zhì)量的一種裝置,如圖所示,電容器兩極板相距為d,兩板間電壓為U,極板間勻強(qiáng)磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度為B1,方向垂直紙面向外,一束電荷電量相同質(zhì)量不同的帶正電的粒子測電容器的中線平行于極板射入電容器,沿直線穿過電容器后進(jìn)入另一磁感應(yīng)強(qiáng)度為B2的勻強(qiáng)磁場,磁場方向垂直紙面向外。結(jié)果分別打在感光片上的a、b兩點(diǎn),設(shè)a、b兩點(diǎn)之間距離為△x,粒子所帶電荷量為q,且不計(jì)重力,求:

   (1)粒子進(jìn)入磁場B2時(shí)的速度v;

   (2)打在a、b兩點(diǎn)的粒子的質(zhì)量之差△m。

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質(zhì)譜儀是用來測定帶電粒子質(zhì)量的一種裝置,如圖所示,電容器兩極板相距為d,兩板間電壓為U,極板間勻強(qiáng)磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度為B1,方向垂直紙面向外,一束電荷電量相同質(zhì)量不同的帶正電的粒子沿電容器的中線平行于極板射入電容器,沿直線勻速穿過電容器后進(jìn)入另一磁感應(yīng)強(qiáng)度為B2的勻強(qiáng)磁場,磁場方向垂直紙面向外。結(jié)果分別打在感光片上的a、b兩點(diǎn),設(shè)a、b兩點(diǎn)之間距離為△x,粒子所帶電荷量為q,且不計(jì)重力,求:
(1)粒子進(jìn)入磁場B2時(shí)的速度v的大。
(2)打在a、b兩點(diǎn)的粒子的質(zhì)量之差△m。

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質(zhì)譜儀是用來測定帶電粒子質(zhì)量的一種裝置,如圖所示,電容器兩極板相距為d,兩板間電壓為U,極板間的勻強(qiáng)磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度為B1,方向垂直紙面向外。一束電荷量相同質(zhì)量不同的帶正電的粒子沿電容器的中線平行于極板射入電容器,沿直線穿過電容器后進(jìn)入另一磁感應(yīng)強(qiáng)度為B2的勻強(qiáng)磁場,方向垂直紙面向外。結(jié)果分別打在感光片上的a、b兩點(diǎn),設(shè)a、b兩點(diǎn)之間距離為△x,粒子所帶電荷量為q,且不計(jì)重力。求:
(1)粒子進(jìn)入磁場B2時(shí)的速度v;(6分)
(2)打在a、b兩點(diǎn)的粒子的質(zhì)量之差△m。(13分)

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 質(zhì)譜儀是用來測定帶電粒子質(zhì)量的一種裝置,如圖13所示,電容器兩極板相距為d,兩板間電壓為U,極板間勻強(qiáng)磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度為B1,方向垂直紙面向外,一束電量相同、質(zhì)量不同的帶正電的粒子沿電容器的中線平行于極板射入電容器,沿直線穿過電容器后進(jìn)入另一磁感應(yīng)強(qiáng)度為B2的勻強(qiáng)磁場中, 磁場方向垂直紙面向外.結(jié)果分別打在感光片上的a、b兩點(diǎn),設(shè)ab兩點(diǎn)之間距離為△x,粒子所帶電荷量為q,且不計(jì)重力,求:

(1)粒子進(jìn)入磁場B2時(shí)的速度v;

(2)打在a、b兩點(diǎn)的粒子的質(zhì)量之差△m。

 

 

 

 

 

 

 

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 質(zhì)譜儀是用來測定帶電粒子質(zhì)量的一種裝置,如圖13所示,電容器兩極板相距為d,兩板間電壓為U,極板間勻強(qiáng)磁場的磁感應(yīng)強(qiáng)度為B1,方向垂直紙面向外,一束電量相同、質(zhì)量不同的帶正電的粒子沿電容器的中線平行于極板射入電容器,沿直線穿過電容器后進(jìn)入另一磁感應(yīng)強(qiáng)度為B2的勻強(qiáng)磁場中, 磁場方向垂直紙面向外.結(jié)果分別打在感光片上的a、b兩點(diǎn),設(shè)a、b兩點(diǎn)之間距離為△x,粒子所帶電荷量為q,且不計(jì)重力,求:

(1)粒子進(jìn)入磁場B2時(shí)的速度v;

(2)打在a、b兩點(diǎn)的粒子的質(zhì)量之差△m。

 

 

 

 

 

 

 

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