如圖所示，帶電平行金屬板PQ和MN之間的距離為d，兩金屬板之間有垂直紙面向里的勻強磁場，磁感應強度大小為B，如圖建立坐標系，x軸平行于金屬板，與金屬板中心線重合，y軸垂直于金屬板。區(qū)域I的左邊界在y軸，右邊界與區(qū)域II的左邊界重合，且與y軸平行；區(qū)域II的左、右邊界平行。在區(qū)域I和區(qū)域II內分別存在勻強磁場，磁感應強度大小均為B，區(qū)域I內的磁場垂直于Oxy平面向外，區(qū)域II內的磁場垂直于Oxy平面向里。一電子沿著x軸正向以速度v₀射入平行板之間，在平行板間恰好沿著x軸正向做直線運動，并先后通過區(qū)域I和Ⅱ。已知電子電量為e，質量為m，區(qū)域I和區(qū)域II沿x軸方向寬度均為,不計電子所受重力。

（1）求兩金屬板之間電勢差U
（2）求電子從區(qū)域II右邊界射出時，射出點的縱坐標y

如圖所示，帶電平行金屬板PQ和MN之間的距離為d，兩金屬板之間有垂直紙面向里的勻強磁場，磁感應強度大小為B，如圖建立坐標系，x軸平行于金屬板，與金屬板中心線重合，y軸垂直于金屬板。區(qū)域I的左邊界在y軸，右邊界與區(qū)域II的左邊界重合，且與y軸平行；區(qū)域II的左、右邊界平行。在區(qū)域I和區(qū)域II內分別存在勻強磁場，磁感應強度大小均為B，區(qū)域I內的磁場垂直于Oxy平面向外，區(qū)域II內的磁場垂直于Oxy平面向里。一電子沿著x軸正向以速度v₀射入平行板之間，在平行板間恰好沿著x軸正向做直線運動，并先后通過區(qū)域I和Ⅱ。已知電子電量為e，質量為m，區(qū)域I和區(qū)域II沿x軸方向寬度均為,不計電子所受重力。

（1）求兩金屬板之間電勢差U

（2）求電子從區(qū)域II右邊界射出時，射出點的縱坐標y

如圖所示，一個帶電粒子在磁感強度B＝0.8T的勻強磁場中運動，其速度方向與磁場方向垂直，從a到b所需時間2×10^－4s，從b繼續(xù)運動到a所需時間為10^－3s，已知a、b兩點的距離為0.3m，帶電量為3×10^－3C，則該粒子的動量為[　　 ]

A、7.2×10^－9kg·m/s；

B、1.44×10^－8kg·m/s；

C、3.6×10^－9kg·m/s；

D、條件不足，無法確定。

A、7.2×10^－9kg·m/s；

B、1.44×10^－8kg·m/s；

C、3.6×10^－9kg·m/s；

D、條件不足，無法確定。

質譜儀是一種測定帶電粒子質量和分析同位素的重要工具，它的構造原理如圖所示．離子源S產生的各種不同正離子束(速度可看作為零)，經加速電場(加速電場極板間的距離為d、電勢差為U)加速，然后垂直進入磁感應強度為B的有界勻強磁場中做勻速圓周運動，最后到達記錄它的照相底片P上．設離子在P上的位置與入口處S₁之間的距離為x。

 (1)求該離子的荷質比．

(2)若離子源產生的是帶電量為q、質量為m₁和m₂的同位素離子(m₁> m₂)，它們分別到達照相底片上的P₁、P₂位置(圖中末畫出)，求P₁、P₂間的距離△x。

(3)若第(2)小題中兩同位素離子同時進入加速電場，求它們到達照相底片上的時間差△t(磁場邊界與靠近磁場邊界的極板間的距離忽略不計)．