雙縫干涉實(shí)驗(yàn)裝置如圖所示,雙縫間距離為
d,雙縫到像屏間距為L,調(diào)整實(shí)驗(yàn)裝置使像屏上見到清晰的干涉條紋,關(guān)于該干涉條紋及改變條件后干涉條紋的變化情況,下列敘述中正確的是屏上所有亮線都是從雙縫出來的兩列光波的波峰與波峰疊加形成的,而所有暗線是波谷與波谷疊加形成的
若將像屏向右或向左平移一小段距離,屏上仍有清晰的干涉條紋
若將雙縫間距
d減小,像屏上兩相鄰明條紋間距變小若改用頻率較大的色光進(jìn)行實(shí)驗(yàn),在其他條件不變的前提下.像屏上兩相鄰暗條紋間距變小
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科目:高中物理 來源: 題型:
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科目:高中物理 來源: 題型:
A、若將像屏向左平移一小段距離,屏上的干涉條紋將變得不清晰 | B、若將像屏向右平移一小段距離,屏上仍有清晰的干涉條紋 | C、若將雙縫間距離d減小,像屏上的兩個相鄰明條紋間的距離變小 | D、若將雙縫間距離d減小,像屏上的兩個相鄰暗條紋間的距離增大 |
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科目:高中物理 來源: 題型:
A.O點(diǎn)是紅光的亮條紋? B.紅光的第一條亮條紋在P點(diǎn)的上方?
C.O點(diǎn)不是藍(lán)光的亮條紋? D.藍(lán)光的第一條亮條紋在P點(diǎn)的上方
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